不同雜志的版面費收費標準存在差異，部分期刊也有可能不收取版面費。想查詢《Journal Of X-ray Science And Technology》雜志的版面費，可以按以下步驟操作：

1、使用學術數據庫查詢

Web of Science/Scopus：搜索雜志名稱，查看其信息頁是否標注版面費。

DOAJ（開放獲取期刊目錄）：若雜志在列，可查看公開的版面費信息。

2、聯系編輯部或同行

郵件詢問：如果在投稿系統中未找到版面費信息，可通過郵件直接聯系雜志社，提供雜志名稱和具體問題，通常會得到準確答復。

電話咨詢：在緊急情況下，也可以直接撥打雜志社電話進行詢問。

咨詢同領域發表過該期刊的學者，了解實際收費情況。

3、機構或出版社政策

機構協議：若您隸屬高校或研究所，可通過圖書館或科研管理部門查詢是否有版面費資助。

出版社政策：檢查出版社是否對旗下期刊統一規定版面費。

一、《Journal Of X-ray Science And Technology》雜志基本信息

中文名稱：X射線科學與技術雜志

國際簡稱：J X-RAY SCI TECHNOL

E-ISSN：1095-9114，ISSN：0895-3996

創刊時間：1989年，由IOS Press出版

出版周期：Quarterly

該雜志專注于工程技術-光學（INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION），每篇文章都是該主題的最新、獨立的摘要，旨在為尚未深入研究該領域的讀者提供易于理解的內容。

開放獲取（OA）政策屬于未開放，Gold OA文章占比：5.91%。

二、《Journal Of X-ray Science And Technology》雜志學術影響力與分區

影響因子：1.7，其JCR分區：Q3。
按JIF指標學科分區學科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION，收錄子集：SCIE，分區：Q3，排名：44 / 76，百分位：42.8%；OPTICS，收錄子集：SCIE，分區：Q3，排名：73 / 119，百分位：39.1%；PHYSICS, APPLIED，收錄子集：SCIE，分區：Q3，排名：125 / 179，百分位：30.4%；
按JCI指標學科分區學科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION，收錄子集：SCIE，分區：Q2，排名：35 / 76，百分位：54.61%；OPTICS，收錄子集：SCIE，分區：Q2，排名：59 / 120，百分位：51.25%；PHYSICS, APPLIED，收錄子集：SCIE，分區：Q2，排名：77 / 179，百分位：57.26%；

CiteScore：4.9

分區情況

中科院分區：

在中科院最新升級版分區表中，大類學科為醫學，分區：3區，小類學科INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION儀器儀表，分區：3區。

其他指標

H-index：28，表明期刊具有較高的學術影響力。

年發文量：84篇。

隨著工程技術-光學領域的快速發展，《Journal Of X-ray Science And Technology》雜志有望繼續擴大其影響力，吸引更多高質量的研究文章，為讀者提供更全面的學術資源。

聲明：本信息依據互聯網公開資料整理，若存在錯誤，請及時聯系我們及時更正。