關于《Tm-technisches Messen》雜志是否接受AI輔助的論文，目前并沒有明確的官方聲明指出該雜志絕對接受或拒絕AI輔助撰寫的論文，可能會根據具體情況進行逐案評估，作者在投稿前可以與雜志社進行溝通或咨詢在線客服。

SCI期刊對AI輔助論文的接受程度因期刊而異，以下是對SCI期刊接受AI輔助論文情況的詳細分析：

一、AI輔助論文的使用限制

禁止生成核心內容、禁止署名、保證數據完整性

二、AI輔助的用途

語言潤色，文獻綜述，圖表推薦

三、建議與策略

1.了解目標期刊政策：在投稿前，作者應仔細研究目標SCI期刊的政策和指南，了解其對AI輔助論文的態(tài)度和要求。

2.明確聲明AI使用情況：如果論文中使用了AI輔助技術，作者應在投稿時明確聲明，并提供詳細的AI使用說明和范圍。

3.保持學術誠信與原創(chuàng)性：作者應確保論文的核心內容和創(chuàng)新點是由自己獨立完成的，避免過度依賴AI生成的內容。

4.深度改寫與個性化處理：對AI生成的內容進行深度改寫和個性化處理，以體現個人的學術思考和見解。

《Tm-technisches Messen》雜志創(chuàng)刊于1979年，國際標準簡稱為TM-TECH MESS，ISSN號：0171-8096，E-ISSN號：2196-7113。

該雜志由Walter de Gruyter GmbH出版，出版周期為Monthly，出版語言為German。作為一本專注于工程技術-儀器儀表領域的學術期刊，它被國際權威數據庫SCIE收錄，在學術界具有較高的影響力。

《Tm-technisches Messen》雜志中文名稱為：Tm技術測量。

本期刊致力于促進應用型傳感器、測量系統(tǒng)和測量方法的開發(fā)者與使用這些產品的制造商和測量技術人員之間的對話。

主題

工業(yè)領域測量技術新型傳感器的制造和特性

新型測量方法

基于硬件和軟件對測量信號進行處理和分析以獲得測量值

采用新型測量系統(tǒng)和方法的結果。

分區(qū)情況：

在中科院最新升級版分區(qū)表中，該雜志在大類學科工程技術中位于4區(qū)，小類學科INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION儀器儀表中位于4區(qū)。

JCR分區(qū)信息按JIF指標學科分區(qū)，該雜志在INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION領域為Q4。

Cite Score數據顯示，CiteScore：1.7，SJR：0.241，SNIP：0.506

學科類別

大類：Engineering，小類：Electrical and Electronic Engineering，分區(qū)：Q3，排名：546 / 797，百分位：31%； 大類：Engineering，小類：Instrumentation，分區(qū)：Q4，排名：117 / 141，百分位：17%；

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