《X-ray Spectrometry》出版語言：Multi-Language，具體論文語言需根據相關征稿要求而定，可聯系雜志社或在線客服。

該雜志是一本由John Wiley and Sons Ltd出版的國際知名學術期刊，創刊于1972年，出版語言：Multi-Language，專注于物理-光譜學領域，重點介紹物理-光譜學的最新關鍵主題。每篇文章都是對該主題的最新、完整的總結，方便尚未深入研究的人閱讀。

《X 射線光譜法》致力于快速發表有關使用電子、X 射線光子、質子、γ 和 γ-x 源的 X 射線光譜法理論和應用的論文。

這本知名期刊涵蓋了技術、方法和設備的進步，為討論更復雜的 X 射線分析方法提供了理想的平臺。

涵蓋了波長和能量色散系統以及一系列數據處理方法，從最簡單到非常復雜的軟件程序。還介紹了有關 X 射線光譜法在結構分析中的應用的論文以及涵蓋環境分析和監測、藝術和考古研究、礦物學、法醫學、地質學、表面科學和材料分析、生物醫學和制藥應用等廣泛領域的應用論文。

此外，關于《X-ray Spectrometry》的數據統計如下：

（1）JCR分區信息：按JIF指標學科分區：Q3，按JCI指標學科分區：Q3

（2）Cite Score（2024年最新版）

（3）在中科院分區表中，大類學科中物理與天體物理為：4區，小類學科中SPECTROSCOPY物理-光譜學：4區

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