關于《Microelectronics Reliability》雜志是否接受AI輔助的論文，目前并沒有明確的官方聲明指出該雜志絕對接受或拒絕AI輔助撰寫的論文，可能會根據具體情況進行逐案評估，作者在投稿前可以與雜志社進行溝通或咨詢在線客服。

SCI期刊對AI輔助論文的接受程度因期刊而異，以下是對SCI期刊接受AI輔助論文情況的詳細分析：

一、AI輔助論文的使用限制

禁止生成核心內容、禁止署名、保證數據完整性

二、AI輔助的用途

語言潤色，文獻綜述，圖表推薦

三、建議與策略

1.了解目標期刊政策：在投稿前，作者應仔細研究目標SCI期刊的政策和指南，了解其對AI輔助論文的態度和要求。

2.明確聲明AI使用情況：如果論文中使用了AI輔助技術，作者應在投稿時明確聲明，并提供詳細的AI使用說明和范圍。

3.保持學術誠信與原創性：作者應確保論文的核心內容和創新點是由自己獨立完成的，避免過度依賴AI生成的內容。

4.深度改寫與個性化處理：對AI生成的內容進行深度改寫和個性化處理，以體現個人的學術思考和見解。

《Microelectronics Reliability》雜志創刊于1964年，國際標準簡稱為MICROELECTRON RELIAB，ISSN號：0026-2714，E-ISSN號：1872-941X。

該雜志由Elsevier Ltd出版，出版周期為Monthly，出版語言為English。作為一本專注于工程技術-工程：電子與電氣領域的學術期刊，它被國際權威數據庫SCIE收錄，在學術界具有較高的影響力。

《Microelectronics Reliability》雜志中文名稱為：微電子可靠性。

《微電子可靠性》致力于傳播微電子設備、電路和系統可靠性的最新研究成果和相關信息，涵蓋材料、工藝和制造、設計、測試和操作等各個方面。該期刊涵蓋以下主題：測量、理解和分析；評估和預測；建模和仿真；方法和緩解。將可靠性與微電子工程其他重要領域（如設計、制造、集成、測試和現場操作）相結合的論文也將受到歡迎，并且特別鼓勵報告該領域和特定應用領域案例研究的實踐論文。

大多數被接受的論文將以研究論文的形式發表，描述重大進展和已完成的工作。回顧普遍感興趣的重要發展主題的論文可能會被接受作為評論論文發表。更初步的緊急通訊和關于當前感興趣的已完成實踐工作的簡短報告可能會被考慮作為研究筆記發表。所有投稿均需經過該領域頂尖專家的同行評審。

分區情況：

在中科院最新升級版分區表中，該雜志在大類學科工程技術中位于4區，小類學科ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程：電子與電氣中位于4區。

JCR分區信息按JIF指標學科分區，該雜志在ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC領域為Q3。

Cite Score數據顯示，CiteScore：3.3，SJR：0.394，SNIP：0.801

學科類別

大類：Engineering，小類：Safety, Risk, Reliability and Quality，分區：Q2，排名：83 / 207，百分位：60%； 大類：Engineering，小類：Electrical and Electronic Engineering，分區：Q2，排名：395 / 797，百分位：50%；

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